美光发布全球最高容量耐辐射NAND

7月23日，美光位于美国爱达荷州博伊西的团队宣布推出一款容量达256Gb的耐辐射SLC NAND闪存，创下该领域当前最高容量纪录。这是美光首款通过完整太空应用认证的NAND产品，同时也成为主流存储制造商中首个提供该规格耐辐射存储解决方案的厂商。

随着航天发射任务日益频繁，太空经济持续加速发展，而通用计算与人工智能技术的进步也对在轨数据处理能力提出了更高要求。具备抗辐射能力的高性能闪存，正在成为支持卫星、空间站等航天器实现高效数据存储与实时计算的关键组件。

此次发布的256Gb SLC NAND产品经过多项严苛环境测试，全面验证其在极端太空条件下的可靠性。测试涵盖多个关键项目：依据NASA PEM-INST-001二级标准，开展了为期一年的元器件筛选流程，包括长时间动态老化（达590小时）、缺陷检测以及极端温度循环测试；针对总电离剂量的辐射特性评估，依照美国军用标准MIL-STD-883 TM1019 condition D，测量产品在轨运行期间可承受的累计伽马射线辐射水平，为不同任务周期的应用提供数据支持；同时，还依据JEDEC JESD57及ASTM F1192标准，对单粒子效应进行辐射表征分析，评估高能粒子对半导体器件的影响，确保其在强辐射环境中稳定运行。

该产品的推出标志着耐辐射存储技术迈向新阶段，为未来深空探测、低轨卫星集群及空间计算平台提供了更高容量、更可靠的存储基础。