三星研发10纳米以下新型晶体管突破DRAM微缩瓶颈

三星宣布，其与下属先进技术研究机构已成功研发出一种新型晶体管，可在10纳米以下制程节点实现DRAM的生产。这项技术突破为移动内存的持续微缩提供了关键解决方案，有望推动未来设备在存储容量和性能上的进一步提升。

随着半导体工艺不断向更小节点推进，传统DRAM在进入10纳米以下制程后，逐渐遭遇材料与结构层面的物理瓶颈。此次推出的新型晶体管采用高耐热非晶氧化物半导体材料，具备出色的热稳定性，能在高达550摄氏度的高温环境下维持正常电学性能，满足先进制造流程中的严苛条件。

该晶体管采用垂直沟道结构，沟道长度缩小至100纳米，并可无缝集成于单片式CoP DRAM架构中。实验数据显示，器件在漏极电流表现方面稳定可靠，且在长时间老化测试中展现出优良的耐久性，符合高密度存储产品对长期稳定运行的需求。

目前，该技术尚处于研发阶段，但已明确规划用于后续的0a与0b级别DRAM产品开发。业界预计，基于此项技术的存储芯片有望自2026年起逐步应用于各类终端设备，助力企业在高带宽、大容量内存市场巩固技术领先地位。