iPhone 18 Pro将迎屏下Face ID与单打孔新设计

苹果公司正持续推进iPhone面容ID组件的革新，其屏幕形态正悄然从刘海屏演变为更紧凑的灵动岛设计。最新消息显示，这一技术演进将在即将推出的iPhone 18 Pro系列上实现关键突破。根据当前规划，苹果致力于将所有前置元件逐步集成至显示屏下方，最终达成无开孔、无刘海的真正全面屏效果。

据透露，iPhone 18 Pro与iPhone 18 Pro Max将不再沿用药丸状的挖孔结构，转而采用位于屏幕左上角的单打孔布局。这一转变的核心在于面容ID模块已成功下放至屏幕内部。该消息迅速引发网络热议，登上热门话题榜单。部分用户对左上角单孔设计表示质疑，认为视觉效果不够美观，并对未采用居中打孔方案提出疑问。

在外观设计方面，新机型背部将继续保留横向排列的大尺寸矩阵式摄像头模组，三枚镜头以三角形方式布局，延续前代的整体风格。屏幕尺寸预计保持现有规格，iPhone 18 Pro配备6.3英寸显示屏，iPhone 18 Pro Max则为6.9英寸。同时，新机有望在整体质感上进一步提升，通过优化玻璃材质工艺，缩小屏幕玻璃与铝合金中框之间的颜色差异，从而营造更为连贯、一体的机身视觉效果。

依照惯例，iPhone 18 Pro系列预计将于明年秋季正式发布。届时，屏下集成面容ID技术的成熟度与实际使用体验，将成为衡量产品成败的重要指标，也将直接影响市场对该系列机型的接受程度。