验证被测设备在低温环境下长期存放后,是否仍符合设计性能要求。
1、 先开启高低温试验箱,再将待测器件DUT平稳置于箱内指定位置。
2、 随后开启试验箱电源,将温度设定为-40℃,运行时间设为24小时。
3、 点击运行,再确认是即可启动。
4、 试验结束后,待试品恢复至常温,随即进行外观与功能检查。依据GB/T 28046.1标准,功能状态划分为A、B、C、D、E五个等级。
验证被测设备在低温环境下长期存放后,是否仍符合设计性能要求。
1、 先开启高低温试验箱,再将待测器件DUT平稳置于箱内指定位置。
2、 随后开启试验箱电源,将温度设定为-40℃,运行时间设为24小时。
3、 点击运行,再确认是即可启动。
4、 试验结束后,待试品恢复至常温,随即进行外观与功能检查。依据GB/T 28046.1标准,功能状态划分为A、B、C、D、E五个等级。
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